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德國(guó)菲希爾測(cè)厚儀 XDL230，熒光射線測(cè)厚儀，原理是基于X射線穿透材料時(shí)強(qiáng)度的衰減與被測(cè)物厚度之間的定量關(guān)系，通過(guò)測(cè)量衰減后的射線強(qiáng)度計(jì)算厚度值?。

因?yàn)槭欠墙佑|式的，所以X射線測(cè)厚儀適用于高速生產(chǎn)線（如軋鋼、薄膜制造）的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

?高適應(yīng)性?：通過(guò)調(diào)整X射線能量（如改變管電壓）可匹配不同材質(zhì)和厚度的測(cè)量需求。

?實(shí)時(shí)反饋?：與控制系統(tǒng)聯(lián)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程中的自動(dòng)厚度調(diào)整。

測(cè)量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測(cè)量比測(cè)量箱更長(zhǎng)和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板